徕卡TS60测量全站仪原装基座为激光对中，在理想的测量环境下，与铅垂线偏差1.5mm，但如果在真实的的测量环境中，仪器架设好，在盘左对中后，仪器旋转180°后，激光对中斑点会偏离中心点位2mm，且与仪器销售与维修沟通，这个误差无法进行校正。但这个误差在工业级测量或变形观测时是无法接受的，所以我们需要想办法控制误差。那么徕卡TS60测量全站仪对中精度如何控制在0.5mm呢？
这种情况一般是采用光学对中控制误差，但是徕卡TS16标配激光对中底座，所以购买测绘仪器时需要再买一个光学对中底座。不过这个底座与普通光学底座不同，普通光学可以旋转90°、180°、270°检查对中精度，但徕卡对中基座无法旋转，不容易检查对中误差。
我们可以在架设基座、仪器后，通过仪器的0°、120°、240°三个位置的盘左、盘右位置进行平距测量。经实际测量，三组数据中包含底座自身的对中误差值在0.2mm以内，则使用光学对中基座可以达到0.5mm精度要求。并且也满足一等监测网的精度要求。
注：激光对中误差较大，只能用于常规测量，光学对中器精度高，但是校正同样需要到上校准工作台，如需进行徕卡全站仪购买或校正，可以13618057239详细了解。
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